2025年9月10日至12日，SEMI-e 深圳国际半导体展暨 2025 集成电路产业创新展在深圳国际会展中心(宝安新馆)盛大开幕。展会围绕 “IC 设计与应用”“IC 制造与供应链”“化合物与半导体” 三大主题，超1000 家企业带来全产业链展示。

精彩展会内容，吸引来自半导体行业各细分环节的专业观众驻足交流。微崇半导体携二谐波晶圆检测设备ASPIRER3000、离子注入量测设备BRAVERY3000和全自动超声波缺陷检测设备CLARITY3000等多款设备参展，为参展观众详细拆解设备的技术原理、应用场景与核心优势，更结合不同细分环节的生产痛点，为客户提供定制化的量检测解决方案。

科技部原副部长、国家新型显示技术创新中心理事长、季华实验室理事长曹健林及国家02专项总师、中国科学院微电子研究所原所长、中国集成电路创新联盟副理事长兼秘书长叶甜春等多位领导莅临微崇展位调研指导工作，和微崇半导体董事长兼总经理黄崇基进行了深入的交流，为企业的发展提出优化方向与专业建议。

此外，诸多珠峰论坛行业大咖到访微崇展台，微崇团队倾听了他们对当前行业痛点、未来技术需求的看法，积极回应其提出的疑问与建议，并表示将以此次交流为契机，进一步深化沟通对接，根据客户需求持续优化产品与服务，探索更多领域的合作可能性，共同推动行业技术进步与产业高质量发展。

微崇半导体副总裁周朴希于9月11日上午13号馆馆内会议室“半导体分析测试应用与设备联动发展论坛”及下午13号馆二楼13C“集成电路检测与测试创新发展论坛”发表《创新型量检测技术解决半导体量检测难题》主旨演讲。演讲中，周朴希通过多项研究实例，生动拆解了微崇在量检测技术领域的创新突破，尤其聚焦二谐波技术的独特价值—— 详细介绍该技术在解决界面电学缺陷检测、界面晶格质量检测中的独有优势，为行业攻克半导体量检测关键难题提供了极具参考性的技术思路，赢得现场观众的高度认可。

同期，第27届集成电路制造年会暨供应链创新发展大会（CICD 2025）也于深圳国际会展中心举办，微崇半导体副总裁毛春伟 9月12日上午在13号馆C厅--2F“IC制造与生态发展论坛”以《国产量检测设备市场的现状与思考》为题展开深度探讨。他结合当前半导体产业发展趋势，系统分析了国产量检测设备市场的现有格局、发展机遇与挑战，既客观呈现了市场当前的技术突破与应用进展，也针对行业面临的核心问题提出了建设性思考，为推动国产量检测设备产业高质量发展、完善集成电路制造生态链提供了重要视角，引发现场行业同仁的热烈讨论与共鸣。